ケルビンコンタクト
製品概要
WLCSP等の小型デバイスに対して、当社のケルビンコンタクトは抵抗値をキャンセリングできる4端子測定法で複数個のデバイスを同時測定することが可能となり、多くのプローブカード製品に採用されています。高耐久のファインピッチ垂直型プローブを超精密加工技術により製造されたソケットベースに搭載してプローブユニットを構成しております。
コンタクトイメージ
特長
- φ150μmの半田ボール/バンプにケルビンコンタクトを実現
- 300万回コンタクトの耐久実績
- WLCSP等のマルチ測定に対応
プローブユニット拡大